בית
חדשות
תרגום
פרויקט
פורום
עזרה
חברים
התחבר
הרשם
. .
•פרופיל
kazandibi00
•כל התרגומים
▪▪תרגומים מבוקשים
•
תרגומים מועדפים
•רשימת הפרוייקטים
•תיבת דואר נכנס
▪חילופי שפות ×‘×—×™× ×
•English
•Türkçe
•Français
•Español
•Italiano
•Português brasileiro
•Deutsch
•Română
•عربي
•Русский
•Svenska
•Ελληνικά
•Български
▪▪עברית
•Shqip
•Srpski
•Nederlands
•Dansk
•Português
•Polski
•汉语(简体)
•Lietuvių
•Norsk
•فارسی
•Suomi
•Hrvatski
•日本語
•Català
•Esperanto
•한국어
•Українська
•Føroyskt
•नेपाली
•Kiswahili
כל התרגומים
חיפוש
תרגומים מבוקשים - kazandibi00
חיפוש
שפת המקור
שפת המטרה
תוצאות 1 עד 2 מ קרוב ל2
1
411
שפת המקור
özet
The atomic force microscope (AFM) is ideally suited for characterizing nanoparticles. It offers the capability of 3D
visualization and both qualitative and quantitative information on many physical properties including size, morphology,
surface texture and roughness. Statistical information, including size, surface area, and volume distributions,
can be determined as well. A wide range of particle sizes can be characterized in the same scan, from 1 nanometer
to 8 micrometers.
תרגומים שהושלמו
Atomik Kuvvet Mikroskopu
1